美國TRIO-TECH高壓加速老化試驗箱(HAST)測試領(lǐng)域的技術(shù)和市場，擁有技術(shù)* HAST 系統(tǒng)，提供更方便、更安全的交鑰匙解決方案，包括系統(tǒng)、機架、培訓(xùn)和測試服務(wù)，在全球有 600 多個安裝點。
HAST-1000X、HAST-6000X 和 HAST-9000X 加壓濕度測試系統(tǒng)為塑料封裝集成電路
和其他微電子器件的傳統(tǒng)濕熱 85/85 溫度和濕度測試提供了一種快速、經(jīng)濟的替代方法。
據(jù)半導(dǎo)體行業(yè)的技術(shù)計算，HAST 測試比傳統(tǒng)測試方法快 10-40 倍。這種高度加速的 測試能更快地對日益復(fù)雜的微電子產(chǎn)品進行表征、評估和鑒定。
HAST高壓加速老化試驗箱設(shè)備性能：
?HAST、AUTOCLAVE、85/85 測試
可根據(jù)要求進行
? 測試容量大
測試容量范圍為 64 - 380 升（其他尺寸可根據(jù)要求提供）
? 觸摸屏控制器
便于操作的觸摸屏操作
? 靈活的偏導(dǎo)線配置
廣泛的應(yīng)用和實驗
? 4 ATM 系統(tǒng)
在 85% 相對濕度條件下提供 150oC 的最高溫度
? 4 個數(shù)字輸出
觸發(fā)外部電源開/關(guān)
? 電源控制
允許通過可變通信類型對外部電源進行編程/觸發(fā)

產(chǎn)品特點：
1， 最新的 HAST 系統(tǒng)采用了雙容器系統(tǒng)設(shè)計，帶有的圓周加熱系統(tǒng)，可提供均勻的溫度和濕度控制（+/- 2°Χ, +/- 5% RH），并消除被測設(shè)備上的冷凝現(xiàn)象。 這就確保了測試數(shù)據(jù)的可靠性。
2，我們的所有 HAST 系統(tǒng)均符合 ASME 4 ATM 的額定值，可在 85% 相對濕 度下進行高溫測試。85% 相對濕度下的最高溫度為1 5 0 ° C .許多工藝都需要高溫 HAST測試，而這是可以實現(xiàn)的。

3，非筆６該模式可對溫度、濕度、測試時間、斜坡上升、電源循環(huán)和斜坡下降進行多步驟編程。該模式還提供自動啟動電源驗證、校準和 PID 值調(diào)整功能。數(shù)據(jù) 保存周期 - 1 秒。硬盤 CF 內(nèi)存。 Hast 系統(tǒng)采用觸摸屏計算機系統(tǒng)，可對所有腔室參數(shù)和電源進行簡單控制。有兩種編程模式可供選擇。
 
4，計算機顯示器上可顯示測試條件圖表 。所有測試參數(shù)和最多四個電源的數(shù)據(jù)記錄都可直接導(dǎo)入標準 USB 端口或局域網(wǎng)連接的服務(wù)器進行存儲或傳輸?shù)竭h程 PC。
5，有多種類型和數(shù)量的偏置導(dǎo)線可用于不同的 ,應(yīng)用，如測試板監(jiān)控、動態(tài)測試和泄漏電阻測試。可選配快速斷開偏置線連接器，便于拆卸測試架進行清潔和維護。

6，所有 HAST系統(tǒng)都能執(zhí)行高壓釜測試流程和 HAST 測試。測試開始時，測試所需的加濕水會自動從水箱中取出。還提供 85/85 選件，可將流程功能擴展到非加壓濕度測試。在進行 HAST 測試和 85/85 測試之間的相關(guān)性研究時，建議使用該選項。
7，該選項允許在每次測試后將 N2 吹掃到系統(tǒng)中。這將減少系統(tǒng)的斜坡下降時間，從而防止測試設(shè)備出現(xiàn) "烘烤效應(yīng)"。
8，該選項允許在每次測試開始前將 N2 吹掃到系統(tǒng)中。這將清除系統(tǒng)中的空氣，防止蒸汽在升溫過程中積聚在測試設(shè)備上。
設(shè)備參數(shù)：

性能參數(shù)表：

參考標準：


安全功能：

壓力：.緊急超壓安全閥、自動最佳試驗室超壓吹掃、超壓警報和加熱器自動切斷。
溫度 ：腔體過熱傳感器、圓周加熱器和腔體加熱器、蒸汽泄漏、低水位切斷 .
電氣： 熔絲控制面板、系統(tǒng)和加熱器斷路器、接地系統(tǒng) 檢測供水故障、不完、全門鎖漏電斷路器、溫度傳感器斷開保護器。
系統(tǒng)還配有一個外部報警終端，帶有報警蜂鳴器和指示燈。出現(xiàn)問題時，蜂鳴器會發(fā)出聲音，附近的人會立即收到警報。
該系統(tǒng)采用手動或自動門鎖機制選項，并在此基礎(chǔ)上運行。這可以防止在試驗室加壓時
打開門。

美國TRIO-TECH高壓加速老化試驗箱(HAST)，HAST快速老化試驗箱，HAST高加速老化試驗箱，HAST芯片高壓高溫高濕老化箱。HAST半導(dǎo)體高加速老化試驗箱，HAST試驗箱。